关于ARM芯片Test模式的问题
曾经用过两款ARM芯片，AT91RM9200和S3C2510，发现这两款芯片都有一个模式选择引脚，在AT91RM9200中是TST0和TST1引脚，在S3C2510中是TMOD引脚，数据手册中说通过这些引脚设置，可以选择芯片工作在正常功过模式，还是测试模式。
请教一下高手，当这些ARM芯片进入测试模式时，芯片个IO口出于什么状态，芯片还可以通过仿真器进行操作吗？谢谢！
[解决办法]
本来想帮你的，结果发现我也无能为力，抱歉哦。对了，百度谷歌一下关键字 兴许可以找到答案
[解决办法]
百度谷歌要是能找到，也不在这发帖了。
[解决办法]
测试模式是不是大家都没有用过呀？
